正入射太赫茲集成探頭可集成太赫茲發(fā)射/探測天線及太赫茲透鏡,避免人工調(diào)節(jié)光路的繁瑣,提高了光路的穩(wěn)定性,在探測反射光譜時(shí)可消除多次反射所造成的影響,搭配專用二維掃描平臺或機(jī)械臂,可對復(fù)雜曲面樣件進(jìn)行探測。可用于反射光譜分析、涂層無損層析成像探測等。
立即咨詢正入射太赫茲集成探頭可集成太赫茲發(fā)射/探測天線及太赫茲透鏡,避免人工調(diào)節(jié)光路的繁瑣,提高了光路的穩(wěn)定性,在探測反射光譜時(shí)可消除多次反射所造成的影響,搭配專用二維掃描平臺或機(jī)械臂,可對復(fù)雜曲面樣件進(jìn)行探測。可用于反射光譜分析、涂層無損層析成像探測等。
